基于SDD与DPP的X荧光分析及其在光伏硅杂质元素分析中的应用

【摘要】：采用硅漂移探测器(SDD)和DPP数字脉冲处理器(DPP)相结合,以及双靶X光管激发系统的X荧光分析方法,测定了光伏硅中杂质元素的含量,并采用不同含量的国家标准物质元素,对其最低检测限、精密度、准确度、稳定性等进行了实验,以检验所研制设备及所建立方法的可行性和实用性。研究结果表明,运用该设备及方法所测得的数据,可满足欧盟ARTIST计划和美国太阳能工业协会对光伏硅中杂质元素的限制要求。 【作者单位】： 烟台大学;电子科技大学;中科院近代物理研究所;
【关键词】： X荧光分析 SDD硅漂移探测器 DPP数字脉冲处理器 光伏硅 杂质 元素分析
【分类号】：TN304.12
【正文快照】： 光伏产业是绿色产业的重要部分。光伏电池中多晶硅电池占据了主导地位。而光伏硅中往往含有一定杂质。据分析,光伏硅中的杂质主要有硼、磷、砷、硫等非金属元素和铝、钙、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜等金属元素。杂质元素对光伏硅电池的性能具有重要影响:(1)可改变硅片的

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